shaista kha offer
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability image

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Paperback)

by Laung-Terng Wang

Total: TK. 1,114

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

1st Edition,2011

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Paperback)

TK. 1,114

বইটি বিদেশি প্রকাশনী বা সাপ্লাইয়ারের নিকট থেকে সংগ্রহ করে আনতে আমাদের ৩০ থেকে ৪০ কর্মদিবস সময় লেগে যেতে পারে।

Edition

editon-icon

1st Edition

Publication

publication-icon
Elsevier (India)

ISBN

isbn-icon

9789380501550

কমিয়ে দেখুন
tag_icon

HSC আলিমের ৪টি বোর্ড বইয়ের প্যাকেজের সাথে English Therapy'র পকেট বুক ফ্রি!

আরো দেখুন
book-icon

বই হাতে পেয়ে মূল্য পরিশোধের সুযোগ

mponey-icon

৭ দিনের মধ্যে পরিবর্তনের সুযোগ

Customers Also Bought

Product Specification & Summary

Title VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Author
Publisher
ISBN 9789380501550
Edition 1st Edition,2011
Country India
Language English

Similar Category Best Selling Books

Related Products

Sponsored Products Related To This Item

Reviews and Ratings

sort icon

Product Q/A

Have a question regarding the product? Ask Us

Show more Question(s)
prize book-reading point

Recently Sold Products

Recently Viewed
cash

Cash on delivery

Pay cash at your doorstep

service

Delivery

All over Bangladesh

return

Happy return

7 days return facility

0 Item(s)

Subtotal:

Customers Also Bought

Are you sure to remove this from book shelf?

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability